レポートNo.211：課題解決ソリューションセミナー（オンライン）～計測データの利活用～

2024年8月1日（木）3Dスキャナでの計測に関するセミナーをオンラインで配信しました。講師には、東京貿易テクノシステム株式会社に協力いただき、3DスキャナやDIC(デジタル画像相関法)の種類、選び方、お客様の課題・ソリューションの最新情報を提供いただきました。

3Dスキャナは、対象ワークを3Dスキャン、3D点群データを読み込み、ポリゴン生成するデバイスになります。使用目的として、検査、リバースエンジニアリング、3Dプリンター造形、CG制作などがあります。3Dスキャン対象としては、製品、金型、治具、現場、文化財など、様々な物が3Dスキャンされ、活用されています。

3Dスキャナのメリットとしては、門型三次元測定機のプローブでは測定困難な物を図ることができ、接触式では見つけ難かった自由曲面の局部的な変形を確認することができます。セミナーでは、プレス品や金型においての活用事例なども交えながら説明をいただき、実践的な活用方法を学ぶ事ができました。

今回、3Dスキャナだけではなく、DICによる検査についても紹介がありました。DICとは、計測対象にスプレーなどで塗布したランダム模様の変化を、カメラで撮影した画像から解析することで、変位・ひずみを計測し可視化する手法です。画像解析による変位・ひずみを解析するので、非接触で面や3D形状のひずみも可視化できます。計測したひずみをポスト処理することで応力に変換することも可能です。

東京貿易テクノシステム㈱様で、提供しているソリューションに「Match ID」があります。Match IDは、変形はどのようにして起こったのかを洞察するためのヒントを提供します。ユーザの技術リクエストに応えられるように、 MatchIDのDICプラットフォームは、完全にモジュール化されており、変形の視覚化、性能の最適化、誤差の評価、モデルの検証など、様々なコンポーネントから構成されています。MatchIDはDICシステムの中で最も多機能な製品の一つで、一段上のステージでのDIC実験を実現するとのことでした。

3Dスキャナでは、BoforeとAfterのみの検査となりますが、Match IDを活用することで、動的変位、ひずみ解析を行うことができます。